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菲希爾X射線鍍層測厚儀XDL230產品信息

更新時間:2025-07-23   點擊次數:140次

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230通用規格

設計用途

能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀(EDXPF),

用于測定超薄鍍層和溶液分析。

元素范圍

從元素氯(17)到鈾(92)

配有可選的WinFTM®BASIC軟件時,多時可同時測定24種元素

設計理念

臺式儀器,測量門向上開啟

測量方向

由上往下

X射線源

X射線管

帶鈹窗口的鎢管

高壓

三檔:30KV,40KV,50KV

孔徑(準直器)

φ0.3mm 可選:φ0.1mm;φ0.2mm;長方形0.3mm x 0.05mm

測量點尺寸

取決于測量距離及使用的準直器大小

實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致

較小的測量點大小約φ0.2mm

X射線探測

X射線接收器

比例接收器

測量距離

0~80mm,使用專有保護的DCM測量距離補償法

樣品定位

視頻系統

高分辨率CCD彩色攝像頭,沿著初級X射線光束方向觀察測量位置

手動聚焦,對被測位置進行監控

十字線(帶有經過校準的刻度和測量點尺寸)

可調節亮度的LED照明,激光光點用于準確定位樣品

放大倍數

40x~160x

電器參數

電源要求

200V,50Hz

功率

很大120W(不包括計算機)

保護等級

IP40

尺寸規格

外部尺寸

寬x深x高(mm):570x760x650

內部測量室尺寸

寬x深x高(mm):460x495x(參考“樣品較大高度"部分的說明)

重量

107KG

環境要求

使用時溫度

10℃~40℃

存儲或運輸時溫度

0℃~50℃

空氣相對濕度

≤95% 無結露

工作臺

設計

手動X/Y平臺

X/Y平臺較大移動范圍

92x150mm

可用樣品放置區域

420x450mm

Z軸

馬達驅動

Z軸移動范圍

140mm

樣品很大重量

20KG

樣品很大高度

140mm

激光(1級)定位點

計算單元

計算機

帶擴展卡的Windows®計算機系統

軟件

標準:WinFTM®V.6 LIGHT

可選:WinFTM®V.6 BASIC,PDM,SUPER

執行標準

CE合格標準

EN 61010

型式許可

作為受保護的儀器

型式許可符合德國“Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法規的規定






蘇公網安備32021402002647