菲希爾fischerscope x-ray xan252

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250/252
X射線熒光測量儀，配有進(jìn)的硅漂移探測器(SDD)，可快速、無損地進(jìn)行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。
特點(diǎn)
具有強(qiáng)大的綜合測量能力
配有4 個(gè)電動調(diào)節(jié)的準(zhǔn)直器和6個(gè)電動調(diào)節(jié)的基本慮片
配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，還適用于更復(fù)雜的多元素分析
由下至上的測量方向，可以非常簡便地實(shí)現(xiàn)樣品定位 
典型應(yīng)用領(lǐng)域
對電子和半導(dǎo)體行業(yè)中僅幾個(gè)納米的功能性鍍層進(jìn)行測量
對有害物質(zhì)進(jìn)行痕量分析，例如，玩具中的鉛含量
在珠寶和手表業(yè)，以及在金屬精煉領(lǐng)域，對合金進(jìn)行分析
用于高校研究和工業(yè)研發(fā)領(lǐng)域

菲希爾fischerscope x-ray xan252

FISCHERSCOPE XDV-SDD
X射線熒光測試儀，配有可編程XY平臺和Z軸，可自動測量超薄鍍層和分析痕量元素
儀器特點(diǎn)
高級型號儀器，具有常見的所有功能
射線激發(fā)量的靈活性，激發(fā)量可根據(jù)測量面積大小和光譜組成而改變
通過硅漂移探測器，在 > 10萬cps（每秒計(jì)數(shù)率） 的信號量下也可以正常工作，而不會出現(xiàn)能量分辨率的降低
極低的檢測下限和測量重復(fù)度
帶有快速、可編程 XY 工作臺的自動測量儀器
大容量便于操作的測量艙
典型應(yīng)用領(lǐng)域
測量極薄的鍍層，例如應(yīng)用于電子和半導(dǎo)體行業(yè)中
痕量分析，例如根據(jù) RoHS、玩具標(biāo)準(zhǔn)、包裝標(biāo)準(zhǔn)對有害物質(zhì)進(jìn)行檢測
進(jìn)行黃金和貴金屬分析
光伏產(chǎn)業(yè)
測量 NiP 鍍層的厚度和成分

xan252