鍍銀層厚度測(cè)量

從1953年至今，菲希爾公司不斷地在涂鍍層測(cè)厚、材料分析、微硬度測(cè)量和材料測(cè)試領(lǐng)域發(fā)展出創(chuàng)新型的測(cè)量技術(shù)。如今，菲希爾的測(cè)量技術(shù)已在世界各地得到應(yīng)用，滿足客戶對(duì)儀器準(zhǔn)確度、精度和可靠性的要求。目前，有超過10000臺(tái)X射線儀器投入使用，而FISCHERSCOPE® X-RAY品牌也已成為強(qiáng)大，可靠和耐用的X射線熒光測(cè)量設(shè)備的代名詞。

菲希爾X射線熒光分析法 (XRFA)：

能量散射X射線熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層厚度測(cè)量和材料分析的方法，可用來定量和定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測(cè)量。無論是在實(shí)驗(yàn)室還是工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中，這一方法都能勝任，并還可以與現(xiàn)代化設(shè)備一起發(fā)揮作用。

菲希爾X射線熒光法（XRFA）的優(yōu)點(diǎn)：

• 快速無損的鍍層厚度測(cè)量（單層或多鍍層）

• 分析固態(tài)，粉末或液態(tài)樣品

• 有害物痕量分析

• 高精度和準(zhǔn)確度

• 十分廣泛的應(yīng)用

• 準(zhǔn)確測(cè)量基材是磁性和導(dǎo)電的材料

• 樣品制備非常簡(jiǎn)單

• 測(cè)試方法安全，沒有使用危害環(huán)境的化學(xué)制品

• 無耗品，物超所值