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鍍銀層厚度測量

更新時間:2024-06-20

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廠商性質:代理商

生產地址:

簡要描述:
鍍銀層厚度測量,菲希爾金屬鍍層膜厚儀,目前,有超過10000臺X射線儀器投入使用,而FISCHERSCOPE® X-RAY品牌也已成為強大,可靠和耐用的X射線熒光測量設備的代名詞。
品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價格區間面議
產地類別進口應用領域環保,生物產業,石油,制藥/生物制藥,綜合

鍍銀層厚度測量

從1953年至今,菲希爾公司不斷地在涂鍍層測厚、材料分析、微硬度測量和材料測試領域發展出創新型的測量技術。如今,菲希爾的測量技術已在世界各地得到應用,滿足客戶對儀器準確度、精度和可靠性的要求。目前,有超過10000臺X射線儀器投入使用,而FISCHERSCOPE® X-RAY品牌也已成為強大,可靠和耐用的X射線熒光測量設備的代名詞。

菲希爾X射線熒光分析法 (XRFA):

能量散射X射線熒光光譜法(EDXRF)作為鍍層厚度測量和材料分析的方法,可用來定量和定性分析樣品的元素組成,也可用于鍍層和鍍層系統的厚度測量。無論是在實驗室還是工業生產環境中,這一方法都能勝任,并還可以與現代化設備一起發揮作用。

菲希爾X射線熒光法(XRFA)的優點:

  • 快速無損的鍍層厚度測量(單層或多鍍層)

  • 分析固態,粉末或液態樣品

  • 有害物痕量分析

  • 高精度和準確度

  • 十分廣泛的應用

  • 準確測量基材是磁性和導電的材料

  • 樣品制備非常簡單

  • 測試方法安全,沒有使用危害環境的化學制品

  • 無耗品,物超所值


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